PhoneArena dẫn báo cáo của Instrumental cho thấy chính thiết kế táo bạo của Samsung dành cho pin Galaxy Note 7 có thể là thủ phạm gây ra hàng loạt vụ nổ cháy nổ, dẫn đến quyết định "khai tử" mẫu phablet này.

Cụ thể, các tế bào pin có chứa một cặp lớp polymer thấm đẫm chất điện được dùng để tách lớp cực dương bằng lithium cobalt oxide (LiCoO2) và lớp cực âm bằng than chì. Nếu để hai lớp điện cực dương và âm tiếp xúc nhau, chất điện phân sẽ nóng lên gây ra một vụ nổ.

Báo cáo cũng chỉ ra rằng, việc pin Galaxy Note 7 có thiết kế mỏng manh đã khiến lớp cực dương và cực âm siết chặt lại với nhau. Kết hợp với điều kiện sử dụng thông thường tạo sức ép vào pin Galaxy Note 7, như đặt điện thoại ở túi sau và ngồi lên ghế, sẽ gây sự cố phát nổ.

Nhằm làm cho điện thoại mỏng hơn, nhà sản xuất đã thiết kế pin càng chứa được nhiều điện tích càng tốt trong khi vẫn giữ được dáng vẻ thanh mảnh đặc trưng. Báo cáo tiết lộ, nếu Samsung không quyết định thu hồi Galaxy Note 7, khi vận chuyển các máy phablet này, hãng có thể phải yêu cầu tháo rời phần thân.

Samsung được cho là đã mạo hiểm khi vận chuyển pin được lắp nguyên vị trí trong máy, vốn chẳng có mấy không gian để di động, tiềm ẩn các rủi ro. Các chuyên gia đáng lẽ đã phát hiện ra vấn đề này trong quá trình kiểm nghiệm. Tuy nhiên, Samsung đã vi phạm nguyên tắc khi tự kiểm nghiệm sản phẩm.

Instrumental cho rằng, việc thiết kế và xác nhận an toàn cho một sản phẩm mới là điều cần thiết đối với tất cả công ty. Trong trường hợp của Samsung, công ty có thể đã quá vội vàng, và chính cơ sở hạ tầng kiểm tra cũng như sự nóng vội trong quy trình xác nhận thiết kế mới đã dẫn đến thất bại.

Hậu quả của việc này chính là công ty mất đến khoảng 5 tỷ USD trong báo cáo doanh thu, đó là chưa kể các chi phí khác bị tổn thất liên quan đến việc thu hồi Galaxy Note 7.

Phương Anh (TH)